塞尺检定通常以测量端面而非中间刻线为中心，原因如下：
端面精度更高：塞尺的端面经过精密研磨，精度远高于刻线。对齐端面可以获得更准确的测量值。
使用方便：对齐端面时，可以将塞尺的端面直接放置在被测物体上，操作简单便捷。
刻线可能磨损：塞尺的刻线在频繁使用中容易磨损，影响测量精度。对齐端面可以避免这种问题。
塞尺检定的常用中心：对齐零刻线
在某些情况下，塞尺检定也会以零刻线为中心，原因如下：
测量内孔直径：当测量内孔直径时，无法对齐塞尺端面。只能以零刻线为中心，将塞尺插入内孔进行测量。
测量深槽：对于深槽，塞尺无法插入足够深以对齐端面。在这种情况下，也需要以零刻线为中心进行测量。
特殊需求：特定的测量应用可能会要求以零刻线为中心进行塞尺检定。
塞尺检定的其他可选中心
除了端面和零刻线之外，塞尺检定还可以选择其他中心，例如：
对齐中间刻线：在某些精度要求不高的应用中，可以对齐塞尺中间刻线进行测量。
自定义中心：对于特殊形状或尺寸的被测物体，可以根据实际情况选择自定义中心进行塞尺检定。
选择塞尺检定的中心时，需要考虑被测物体的形状、尺寸和精度要求。根据不同的情况，选择最合适的中心可以获得最准确的测量值。
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